透射电子显微镜
生产厂商
日本JEOL
型号
JEM 2100
主要技术指标：
电子枪： LaB6（六硼化镧）；
点分辨率：0.23 nm；
线分辨率：0.14 nm；
加速电压： 200 kV；
放大倍数（高倍）：2000~1,500,000；
放大倍数（低倍）：50~6,000；
能谱仪能量分辨率（MnK）：优于136 eV。
应用领域：
主要应用于固体材料和纳米材料的内部微观结构观察与分析。透射像（明场、暗场和高分辨像）观察，选区电子衍射结构分析和纳米区域的成份分析。
