Zeta电位及纳米粒度分析仪
生产厂商
Horiba
型号
SZ-100Z
主要技术指标:
粒径测量范围:0.3nm~8000nm;
检测精度(100nm标准物质):±2%;
Zeta电位测量范围:-200mV~ +200mV;
散射角:90°,173°;
光源:半导体泵浦固体激光器,532nm。
基本功能:测定胶质粒子、纳米粒子、高分子、胶束、核糖体、纳米囊等的粒径分布;分析乳液、釉浆、颜料等高浓度样品以及胶束、聚合物等低浓度样品的Zeta电位。
应用领域:
该仪器可被广泛应用于陶瓷粒子、金属纳米粒子、碳纳米材料、制药、病毒、颜料和涂料、化妆品、聚合物、食品和CMP等各种纳米级、亚微米级粒子粒径检测,以及胶体、乳液等的Zeta电位分析。