XRD
生产厂商
德国布鲁克
型号
D8 ADVANCE
主要技术指标：
2q测量范围：-10°~168°
可读最小步长：0.0001°
角度重现性：0.0001°
最高定位速度：1500°/min
高温附件：最高温度 1600℃
薄膜分析附件
应用领域：
化工、冶金、电子、陶瓷、水泥、建材、地质等领域。主要用来对单晶多晶和非晶样品进行结构参数分析，进行相变化、结晶化、粒径分析。包括物相的定性和定量分析，衍射谱的指标化和点阵参数的测定，晶粒尺寸及点阵畸变的测定，粉末衍射谱拟合修正晶体结构，残余应力的测定。
